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- 公司名稱 北京玉研精密儀器有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/4/28 15:51:09
- 訪問(wèn)次數(shù) 33
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磁聚焦變像管是激光聚變時(shí)空分辨系統(tǒng)的子系統(tǒng),主要用于做光電子成像實(shí)驗(yàn)。本產(chǎn)品采用4個(gè)線圈產(chǎn)生聚焦成像的磁場(chǎng)。陰極面為較大大口徑的線圈,成像面為小口徑的線圈,其間為兩個(gè)變徑聚焦線圈。這款光電子成像系統(tǒng)的圖像縮比為3:1。初始電子動(dòng)能具有較寬的能量范圍(1.5Kev---3kev),經(jīng)500mm漂移區(qū)后仍保持較好的空間分辨,因而需要用較強(qiáng)的勻強(qiáng)磁場(chǎng)約束光電子。物象比與(BObject/BImage)-1/2成正比。
磁場(chǎng)模擬
四線圈方案:
線圈參數(shù):
線圈匝數(shù) 線圈長(zhǎng)度 線圈直徑 工作電流 陰極面線圈
5x25匝 100mm 120mm 0-25A 聚焦線圈1 9X35匝 140mm 90mm至78mm 0-40A 聚焦線圈2 21X35匝 140mm 72mm至 60mm 0-50A 成像面線圈
22X 30匝
100mm
60mm
0-55A
電子軌跡追蹤(一)
模擬初始條件:
電子初始動(dòng)能1.5Kev—3KeV,入射角度+/-2度。每束電子束由等角度5個(gè)電子組成,電子束出發(fā)點(diǎn)位于光陰極面線圈軸向中心,徑向相對(duì)于軸線坐標(biāo)分別為10mm,20mm,30mm。物像距約為520mm。像縮比約2.9:1。
電子軌跡追蹤(二)
光電子發(fā)散角的高斯分布,在條件下,成像面上的電子成像分辨率可以達(dá)到6lp mm
驅(qū)動(dòng)電源
·電源的上升沿約100ms,恒流工作持續(xù)時(shí)間0-60S,下降沿時(shí)間1-2秒(根據(jù)線圈電容量而定)
·多電源外部同步觸發(fā)
·附加功能:線圈過(guò)溫保護(hù)
后部電子成像方案
機(jī)械與真空設(shè)計(jì)
測(cè)試方案
1.線圈品質(zhì)測(cè)試:
·單個(gè)線圈,電流和磁場(chǎng)強(qiáng)度線性度測(cè)試
·單個(gè)線圈軸向磁場(chǎng)測(cè)量
·線圈組合磁場(chǎng)軸向測(cè)量
2.組合成像測(cè)試:
· 快門曝光時(shí)間20S-1min;線圈電流工作間隔1-10min
· 若圖像強(qiáng)度不夠,則采用CCD 累加成像
· 根據(jù)圖像結(jié)果,微調(diào)線圈磁場(chǎng)
實(shí)驗(yàn)裝置
分化板測(cè)試
分化板前置:
為看到分化板的像,只有柵網(wǎng)條紋
前置分化板:
分化板放置在柵網(wǎng)上
光陰極測(cè)試
光陰極磁場(chǎng)成像
測(cè)試條件:
· 真空: 5X10-6mBar
· 磁場(chǎng): lens1: 29A ; lens2:34.5A; lens3:47.5A; lens4:51.5A;
· 采用 Nikon D750觀測(cè);成像像素2493萬(wàn)(6016X4016)
測(cè)試結(jié)果
分辨率:2pl 清晰 可辨;4pl,5pl 無(wú)法分辨。
縮放比: 分化板寬 4mm;成像約為1.38mm,縮放比約為3:1。
2pl
5pl
縮放比調(diào)整
Lens3: 47A lens4: 51.5A:
Lens3: 57A lens4:60A:
Lens3: 39 A lens4: 45A:
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
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